罗宏伟研究员级高工

2015/03/16 16:21:06人浏览

	罗宏伟 LUOHONGWEI 研究员级高工
	所属学院：	材料与能源学院
	导师类别：	硕士生导师
	科研方向：	电子元器件检测技术；可靠性技术
	硕士招生学院：	材料与能源学院


个人简述 (限300字)	罗宏伟，博士，研究员，副主任，硕士生导师，1968年生，分别于1990年、1995、2005年在西安电子科技大学微电子与固体电子学专业获得本科、硕士、博士学位。1995年4月起在信息产业部电子五所工作至今，一直从事电子元器件及集成电路的失效模式/失效机理分析、可靠性试验和评价、可靠性设计以及鉴定检测等方面的工作，主要研究电子产品的可靠性失效机理、可靠性数值模拟及集成电路的可靠性设计、可靠性模拟仿真等，先后承担或主持完成“九五”、“十五”、“十一五”预研、重点实验室基金、重点基金以及国家科技重大专项等10余项课题研究工作，在国内首次系统的建立了针对VLSI电路主要失效机理的可靠性设计方法，在国内外核心刊物上发表学术论文60余篇，参与编写出版专著4本，先后获得省部级科技进步奖五项，获国家发明专利2项，申请国家发明专利多项。

学科领域	科学学位：微电子学与固体电子学专业学位：集成电路工程

教育背景	2011.01-now,1990年、1995、2005年在西安电子科技大学微电子与固体电子学专业获得本科、硕士、博士学位

工作经历	1995年4月起在信息产业部电子五所工作至今，一直从事电子元器件及集成电路的失效模式/失效机理分析、可靠性试验和评价、可靠性设计以及鉴定检测等方面的工作

主要荣誉	先后获得省部级科技进步奖五项

主要论文	石晓峰, 罗宏伟, 李斌, SHI Xiaofeng, LUO Hongwei, LI Bin ESD应力下n阱扩散电阻的潜在损伤，电子元件与材料,2009, 28(9), 吴建得, 罗宏伟, WU Jian-de, LUO Hong-wei 铜键合线的发展与面临的挑战，电子产品可靠性与环境试验,2008, 26(6), FLOTOX结构的EEPROM可靠性研究

知识产权	发明专利一种基于低能X射线的MCM/HIC电路总剂量辐照试验方法（ZL200810218930.9）罗宏伟等 2010 .1 发明专利 CMOS电路的闩锁测试方法（ZL200410051149.9）罗宏伟 2008 .1

科研项目	承担了十余项国家重大专项、重点实验室基金、基础科研项目电子元器件可靠性罗宏伟 2011 .1